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解决方案

1、DWDM并行扫描测试系统

a)只需1台可调光源,每个工位配上2个高速采集功率计,组建4816工位进行DWDM器件/模块扫描测试!

b)工位之间在向可调光源获取数据时无需排队等待,互不干扰,实时扫描。一台可调光源当4816台可调光源使用,测试系统自动计算相关参数:IL, Ripple, IsolationCWL, BandWidth,中心波长偏移等结果,大大提高测试效率,降低测试硬件成本,实现自动化测试。

c)测试无纸化。合理设计数据结构(SQL Server),所有测试数据都自动保存到数据库。保持所有测试结果的完整性和历史可追溯性。

d)测试结果根据不同客户规格自动分析、自动判级,并自动生成、打印出货报告。

 

2、隔离器芯并行扫描测试系统

a)只需1台可调光源,每个工位配上1个高速采集功率计,组建4816工位进行隔离器芯ILIS参数的自动扫描测试!扫描时间3秒(1525~1570nm)。

b)自动标识不同的mark点,并自动保存到数据库,自动打印和生成TDS报表。

c)从效率和成本平衡考虑,此方案替代原始的OSA+光源扫描方案,成本上具体非常大的优势,工位数越多,单工位的成本越低

 

3、CWDM波分复用器件/模块测试系统

a)采用宽带光源,配上光谱分析仪(OSA),可以快带打描CWDM,DWDM,FWDM的透射、反射光谱并根据相应规格准备计算各种测试参数(如中心波长,隔离度,插损,平坦度等).并自动保存到数据库,自动打印和生成TDS报表。

b)从效率和成本平衡考虑,采用OSA设备共享解决方案(13),减少宽带光源和OSA光谱议的高成本投入。 

 

4、AWGWSS自动化测试系统

a)采用可调光源、快速功率计,安捷伦偏振控制器组合成AWG/WSS测试系统。

b)自动测试计算ITU ILMin ILMax ILIL Uniformity, RipplePDL(muller matrix算法)CWL(0.5dB,1dB,3dB,20dB)Bandwidth Isolation等参数。

c)自动保存测试结果,生成出货报表。可实时共享可调光源和偏振控制器,大大降低硬件的投入成本,提高效率.

 

5、PLC/Coupler光分路器在线监测系统

a)根据客户提供现有的各种测试设备,快速设计、搭建高效率,低成本的测试平台。提高测试产能,确保产品质量!

b)加入相关低成本的控制设备(如光开关),组成一套完整的测试系统,程序可以实现只在一个工位就自动采集所有相关参数(IL,PDL,RL)的测试结果,大大提高测试效率,实现全自动化测试。

c)支持在线监测测试,高低温自动间隔记录数据,自动保存数据,读数间隔时间和总测试时间随意修改,支持多个器件同时监测测试。

d)测试无纸化。合理设计数据结构(SQL Server),所有测试数据都自动保存到数据库。保持所有测试结果的完整性和历史可追溯性。

e)测试结果根据不同客户规格自动分析、自动判级,并自动生成、打印出货报告。

 

6、片扫描测试系统

a)采用宽带光源+光谱仪,配合前端的自动化对准系统,根据要求自动扫描膜片的光谱,并分析不同参数下的陡度,隔离度,插损等结果。

 

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